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技术交流、供需对接、经验分享——在这里促成合作
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技术交流成果
五轴数控国产化:从系统到工艺的全链条突破
五轴联动高档数控机床的国产替代,难点不在单点,而在全链条: 1. 数控系统:自主可控的插补与误差补偿算法,定位精度 ±3μm; 2. 伺服驱动:高速高精响应,是系统精度的执行端; 3. 工艺库:针对航空结构件的五轴加工工艺参数积累,这才是壁垒。 南航这条线已打通系统到工艺,欢迎装备制造商对接国产替代方案。
周
周所长
· 2026-10-09
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技术交流成果
3D 异构集成封装的良率挑战与对策
TSV + 混合键合的 3D 异构集成,互连密度上去了,但良率是量产命门。中科院上海微系统所这条线的经验: 1. 键合对准精度要控制在亚微米,设备漂移是良率杀手; 2. 热膨胀失配导致翘曲,薄硅片工艺要配合; 3. 测试策略要前置,KGD(已知良好芯片)筛选成本远低于成品失良。 已和封测企业完成工艺转移,欢迎交流。
李
李研究员
· 2026-10-09
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技术交流成果
医学影像 AI 落地医院的三个真实难点
我们的多模态影像辅助诊断系统在几家三甲试点后,发现实验室指标和临床落地之间有三道坎: 1. PACS 对接:每家医院 PACS 厂商不同,接口标准参差,部署成本比模型本身高; 2. 阳性预测值:实验室 F1 高,但临床低发病率人群里假阳性多,医生会弃用; 3. 医生信任:得让放射科医生参与标注和复核,系统才能被采纳。 欢迎医院信息科、放射科同行交流落地经验。
黄
黄教授
· 2026-10-09
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技术交流成果
车规级 MCU 的功能安全设计要点
做车规 MCU 最容易被卡的就是 ISO 26262 的 ASIL-B 合规。分享几点我们在浙大集成电路学院踩过的坑: 1. 锁步核与 BIST 必须在架构早期就规划,后期补救成本极高; 2. Flash 的 ECC 覆盖率要按 SEooC 评估,别等主机厂审; 3. 失效模式分析(FMEDA)建议拉上主机厂功能安全工程师一起做。 我们这颗 MCU IP 已过 ASIL-B 评估,欢迎同行交流,也欢迎主机厂对接。
张
张教授
· 2026-10-08
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